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  • BSD-PS比表面及孔隙率分析
    BSD-PS比表面及孔隙率分析

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號(hào):BSD-PS

    瀏覽量:1117

    比表面及孔隙率分析儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi),遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)*,。
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  • BSD-PS比表面及孔隙率分析儀
    BSD-PS比表面及孔隙率分析儀

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號(hào):BSD-PS

    瀏覽量:1270

    比表面及孔隙率分析儀,具有2個(gè)樣品預(yù)處理脫氣站,2個(gè)樣品分析站。測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。重復(fù)性誤差小于±1.5%。測(cè)試范圍:比表面0.0005m2/g以上,微孔:0.35-2nm、介孔:2-50nm、大孔:50-500nm,樣品類型:粉末,顆粒,纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料。國(guó)內(nèi),遠(yuǎn)銷海外,獲得多項(xiàng)國(guó)內(nèi)技術(shù)*,。
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  • BSD-PM高精度微孔檢測(cè)
    BSD-PM高精度微孔檢測(cè)

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號(hào):BSD-PM

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    高性能高精度微孔檢測(cè)儀屬于研究級(jí)儀器,可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果,適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求*的科研單位和企業(yè)用戶。
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  • 高精度微孔檢測(cè)儀
    高精度微孔檢測(cè)儀

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號(hào):

    瀏覽量:1870

    高性能高精度微孔檢測(cè)儀屬于研究級(jí)儀器,可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果,適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求*的科研單位和企業(yè)用戶。
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  • BSD-PM高精度微孔測(cè)量
    BSD-PM高精度微孔測(cè)量

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號(hào):BSD-PM

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    高性能高精度微孔測(cè)量?jī)x屬于研究級(jí)儀器,可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果,適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求*的科研單位和企業(yè)用戶。
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  • BSD-PM高精度微孔測(cè)量?jī)x
    BSD-PM高精度微孔測(cè)量?jī)x

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號(hào):BSD-PM

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    高性能高精度微孔測(cè)量?jī)x屬于研究級(jí)儀器,可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果,適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求*的科研單位和企業(yè)用戶。
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  • BSD-PM高精度微孔測(cè)定
    BSD-PM高精度微孔測(cè)定

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號(hào):BSD-PM

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    高性能高精度微孔測(cè)定儀屬于研究級(jí)儀器,可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果,適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求*的科研單位和企業(yè)用戶。
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  • BSD-PM高精度微孔測(cè)定儀
    BSD-PM高精度微孔測(cè)定儀

    更新時(shí)間:2024-10-25

    型號(hào):BSD-PM

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    高性能高精度微孔測(cè)定儀屬于研究級(jí)儀器,可測(cè)試材料的比表面積、總孔容、孔徑分布和吸附脫附數(shù)據(jù),尤其可對(duì)微孔材料的孔徑分布給出更準(zhǔn)確測(cè)試結(jié)果,適用于對(duì)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)要求*的科研單位和企業(yè)用戶。
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